果樹の乱雑な葉層内における派生散乱光由来の光合成有効放射束密度とその簡易測定法

果樹の乱雑な葉層内における派生散乱光由来の光合成有効放射束密度とその簡易測定法

レコードナンバー703109論文タイプ学術雑誌論文
ALIS書誌IDZZ00015066NACSIS書誌IDAN00200732
著者名山本 隆儀
奥山 神哉
書誌名農業氣象
別誌名J. Agric. Meteorol
Journal of agricultural meteorology
農業気象
Journal of the agricultural meteorology
発行元養賢堂
巻号,ページ60巻・ 4号, p.299-306(2004-12)ISSN00218588
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抄録葉量が非ランダム分布する果樹の樹冠内放射分布を推定するための一つのアイデアとして、仮想グリッドと斜方柱を交錯する方法が提案されている(Yamamoo、1999)。この方法に基づく樹冠内放射分布の推定に必要なパラメータの一つとして、斜方柱内積算LAIの増大に伴う派生散乱光由来の光合成有効放射束密度(PARFDdd)の推定パラメータがある。本研究の目的は本パラメータの簡易測定方法を考案することおよび同法を用いて数種落葉果樹のパラメータを調査することである。円筒内部に種々の段階のLAIをもつ乱雑な葉層を形成させ、直達光が円筒内を直進したときのPARFDddを測定し、平均した(I’)。この場合、記録計の出力波形から派生散乱光のみを抽出した。もう1つの円筒は空にして、直達光斑内の光合成有効放射束密度を測定し、平均した(I0)。LAIが約1のときでは、全品種のI’/I0は0.8%から5.3%の範囲に分布した。また、全品種でLAIの増大に伴ってI’/I0の値が減少する傾向がみられた。ただし、多くの品種で、LAIがおおよそ3を超えるあたりからその減少が鈍り、LAIが約4の葉層のI’/I0は0.2%から1.4%の範囲にあった。このほか、I’/I0の平均値と葉の葉緑素相対濃度SPAD値との間に低い負の相関が認められた。LAIの3次までのべき多項式を用いてI’/I0を近似したところ、式の寄与率(R2)は総じて高く、R2は0.91から0.99の範囲に分布し、たいていは0.94以上であった。本測定装置を用いた1品種測定に要する時間は約90分であり、旧測定装置に比較して簡易であった。
索引語測定;葉;光;放射;分布;パラメータ;品種;果樹;光合成;密度
引用文献数13
登録日2011年03月05日
収録データベースJASI, AGROLib

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